进口FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪技术参数:
通用规格 |
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设计用途 |
能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪(EDXPF), 用于测定超薄镀层和溶液分析。 |
元素范围 |
从元素氯(17)到铀(92) |
配有可选的WinFTM®BASIC软件时,多时可同时测定24种元素 |
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设计理念 |
台式仪器,测量门向上开启 |
测量方向 |
由上往下 |
X射线源 |
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X射线管 |
带铍窗口的钨管 |
高压 |
三档:30KV,40KV,50KV |
孔径(准直器) |
φ0.3mm 可选:φ0.1mm;φ0.2mm;长方形0.3mm x 0.05mm |
测量点尺寸 |
取决于测量距离及使用的准直器大小 |
实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致 |
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较小的测量点大小约φ0.2mm |
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X射线探测 |
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X射线接收器 |
比例接收器 |
测量距离 |
0~80mm,使用专有保护的DCM测量距离补偿法 |
样品定位 |
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视频系统 |
高分辨率CCD彩色摄像头,沿着初级X射线光束方向观察测量位置 |
手动聚焦,对被测位置进行监控 |
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十字线(带有经过校准的刻度和测量点尺寸) |
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可调节亮度的LED照明,激光光点用于准确定位样品 |
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放大倍数 |
40x~160x |
电器参数 |
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电源要求 |
200V,50Hz |
功率 |
很大120W(不包括计算机) |
保护等级 |
IP40 |
尺寸规格 |
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外部尺寸 |
宽x深x高(mm):570x760x650 |
内部测量室尺寸 |
宽x深x高(mm):460x495x(参考“样品较大高度”部分的说明) |
重量 |
107KG |
环境要求 |
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使用时温度 |
10℃~40℃ |
存储或运输时温度 |
0℃~50℃ |
空气相对湿度 |
≤95% 无结露 |
工作台 |
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设计 |
手动X/Y平台 |
X/Y平台较大移动范围 |
92x150mm |
可用样品放置区域 |
420x450mm |
Z轴 |
马达驱动 |
Z轴移动范围 |
140mm |
样品很大重量 |
20KG |
样品很大高度 |
140mm |
激光(1级)定位点 |
有 |
计算单元 |
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计算机 |
带扩展卡的Windows®计算机系统 |
软件 |
标准:WinFTM®V.6 LIGHT |
可选:WinFTM®V.6 BASIC,PDM,SUPER |
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执行标准 |
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CE合格标准 |
EN 61010 |
型式许可 |
作为受完全保护的仪器 |
型式许可完全符合进口“Deutsche Rontgenverordnung-RoV”法规的规定 |
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