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日本安立ANRITSU

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  • 进口2B HERMES Personal Mercury Monitor测汞仪

    进口2B HERMES Personal Mercury Monitor测汞仪

    2025年02月22日 作者 fendu 36 0

    进口2B HERMES Personal Mercury Monitor测汞仪技术参数: 254nm紫外吸收测量原理 线性动态范围0-2000微克/立方米 分辨率0.1微克/立方米 精度(1σ;均方根噪声)大于0.1μg/m3或读数的2% 精度大于0.1微克/立方米或读数的2% 检出限(2σ)0.2μg/m3 NIST可追踪校准是 测量间隔测量模式:10秒快速模式:2秒 流量(标称)~0.8升/分钟 流量要求>0.5 L/min 基线漂移&...

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  • 日本KETT LH-373电涡流膜厚计

    日本KETT LH-373电涡流膜厚计

    2025年02月22日 作者 fendu 42 0

    日本KETT LH-373电涡流膜厚计技术参数: 测试方法:涡电流 应用:非磁性基体上的绝缘涂层 测试范围:0-1200µm 或47.0mils 测试精度:<50 µm ± 1µ mm、50 µm to <1000 µm ± 2%、≥ 1000 µm ± 3% 分辨率:0.1µm (<100µm), 1.0µm (≥100µm) 数据存储:大约 39000 个 应用存储:100 种校准曲线 符合标准:JIS K5600-1-7、JIS...

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  • 日本KETT LZ-373涡磁式膜厚计

    日本KETT LZ-373涡磁式膜厚计

    2025年02月22日 作者 fendu 41 0

    日本KETT LZ-373涡磁式膜厚计技术参数: 型号:LZ-373 测量原理:磁感应+电涡流 测量范围:电磁感应式:0~2500μm或0~99.0 mils 涡电流式:0~1200μm或0~47.0 mils 误差范围:<50μm±1μm ≥50μm<1000μm±2% ≥1000μm±3% 分辨率:0.1μm|1μm 探头:带线探头 统计功能:平均值、较大值、较小值、测试次数、标准偏差 电源:1.5V 显示屏幕:数字LCD显示(背光灯...

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  • 日本KETT LE-373磁感应膜厚计

    日本KETT LE-373磁感应膜厚计

    2025年02月22日 作者 fendu 45 0

    日本KETT LE-373磁感应膜厚计技术参数: 测试方法:电磁感应 应用:磁性基材(铁或钢)上的非磁性涂镀层 测试范围:0-2500μm或99.0mils 测试精度:<50 µm ± 1µ m、50 µm to <1000 µm ± 2%、≥ 1000 µm ± 3% 分辨率:0.1µm (<100µm), 1.0µm (≥100µm) 数据存储:大约 39000 个 应用存储: 100 种校准曲线 符合标准:JIS K5600-1...

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  • 日本KETT LZ-200J两用膜厚计

    日本KETT LZ-200J两用膜厚计

    2025年02月22日 作者 fendu 41 0

    日本KETT LZ-200J两用膜厚计技术参数: 测定方法:电磁诱导式+涡电流式 测定对象:磁性金属上的非磁性薄膜及非磁性金属上的绝缘膜 测量范围: 电磁式:0~1500μm或60.00 mils 涡流式:0~800μm或32.00 mils 测量精度: 电磁式:<15μm±0.3μm ≥15μm±2% 涡流式:<50μm±1μm ≥50μm±2% 测试面积: 3*3mm 测试单位:公/英制 分辨率: ≤100μm0.1μm ≥100...

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  • 日本KETT LZ-990涡磁两用式膜厚计

    日本KETT LZ-990涡磁两用式膜厚计

    2025年02月22日 作者 fendu 37 0

    日本KETT LZ-990涡磁两用式膜厚计技术参数: 测定方法:电磁、涡电流式兼用(自动识别) 测定对象:磁性金属上非磁性涂镀层、非磁性金属上绝缘层 测量范围: 0-2000μm/0-80mils 测量精度: <50μm±1μm >50μm<1000μm±2% >1000μm±3% 测试面积: ≥5x5mm 使用温度范围: 0-40℃ 分辨率: ≤100μm 0.1μm >100μm 1μm 数据统计: 测试次数、较大/较...

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  • 日本KETT LE-200J膜厚计

    日本KETT LE-200J膜厚计

    2025年02月22日 作者 fendu 41 0

    日本KETT LE-200J膜厚计技术参数: 测试方法:电磁感应 应用:磁性基材(铁或钢)上的非磁性涂镀层 测试范围:0-1500 μm或60.00mils 测试精度:<15µm: ±0.3µm, ≥15µm:±2% 分辨率:0.1µm (<100µm), 1.0µm (≥100µm) 符合标准:JIS K5600-1-7、JIS H8501、JIS H0401 / ISO 2808、ISO 2064、ISO 1460、ISO 2178、ISO...

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  • 日本KETT C-130粉体白度计

    日本KETT C-130粉体白度计

    2025年02月22日 作者 fendu 40 0

    日本KETT C-130粉体白度计技术参数: 规格:C-130 测量方式:反射率测量式 测量对象:各种粉体 测量范围:5.0-120.0 样品重量:约5.5g(淀粉) 显示方法:数码显示(荧光显示管、较小显示位0.1) 光源:蓝色LED 功能:用户标准曲线、灵敏度调整通知、平均值、打印机输出 电源:AC100-120V、AC220-240V(50/60Hz) 功率:较大16W、通常4W 尺寸、重量:375(W)×220(D)×250(H)mm、7...

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  • 日本KETT LH-200J型电涡流膜厚计

    日本KETT LH-200J型电涡流膜厚计

    2025年02月22日 作者 fendu 40 0

    日本KETT LH-200J型电涡流膜厚计技术参数: 测试方法:电涡流 应用:非磁性基体上的绝缘涂层 测试范围:0-800µm or 32.00mils 测试精度;<50µm: ±1µm, ≥50µm : ±3% 分辨率:0.1µm (<100µm), 1.0µm (≥100µm) 符合标准;JIS K5600-1-7、JIS H8680-2、JIS H8501 / ISO 2808、ISO 2360、ISO 2064、ISO 19840 /...

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  • 日本KETT FD-660红外线水分计

    日本KETT FD-660红外线水分计

    2025年02月22日 作者 fendu 41 0

    日本KETT FD-660红外线水分计技术参数: 规格:FD-660 测量方式:干燥减量法(加热干燥·重量测量方式) 样品重量:1~80g / 任意重量取样方式 较小显示位:水分·固态分:0.1%和0.01%(更换)、重量:0.005g 测量范围:0~100%(湿基·固态分)、0~500%(干基) 再现性(标准偏差):样品重量5g以上 0.1%(本公司规定的测量条件以及使用标准样品) 测量模式:自动停止模式、时间停止模式(1~120分) 温度设定范围:...

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